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| ≥ 1 | 电议 |
薄膜测厚仪主要用途及特点：
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
薄膜测厚仪技术参数：
测量范围：0-1㎜
分度值：0.001㎜
上测头曲率半径：15～50㎜
测头对试样施加负荷：0.1～0.5N
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